Difracción de rayos-X con incidencia rasante (GIXRD) una herramienta útil para la caracterización de películas delgadas.
Los rayos X se han utilizado durante décadas para estudiar la estructura de los materiales cristalinos. Sin embargo, en las técnicas de los últimos años se han ideado que, en combinación con la disponibilidad de intensos haces colimados de fuentes de radiación, han transformado los rayos X en una versátil y potente herramienta para el…
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